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      2. 光刻工藝的種類與發(fā)展的論文

        時(shí)間:2021-06-13 14:07:04 論文 我要投稿

        關(guān)于光刻工藝的種類與發(fā)展的論文

          引言:從第一個(gè)晶體管問世算起,半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展已有多半個(gè)世紀(jì)了,現(xiàn)在它仍保持著強(qiáng)勁的發(fā)展態(tài)勢(shì),繼續(xù)遵循 Moore 定律即芯片集成度18個(gè)月翻一番,每三年器件尺寸縮小0.7倍的速度發(fā)展。大尺寸、細(xì)線寬、高精度、高效率、低成本的IC生產(chǎn),正在對(duì)半導(dǎo)體設(shè)備帶來前所未有的挑戰(zhàn)。

        關(guān)于光刻工藝的種類與發(fā)展的論文

          集成電路在制造過程中經(jīng)歷了材料制備、掩膜、光刻、清洗、刻蝕、滲雜、化學(xué)機(jī)械拋光等多個(gè)工序,其中尤以光刻工藝最為關(guān)鍵,決定著制造工藝的先進(jìn)程度。隨著集成電路由微米級(jí)向鈉米級(jí)發(fā)展,光刻采用的光波波長也從近紫外(NUV)區(qū)間的436nm、365nm波長進(jìn)入到深紫外(DUV)區(qū)間的248nm、193nm波長。目前大部分芯片制造工藝采yong了 248nm 和 193nm 光刻技術(shù)。目前對(duì)于 13.5nm 波長的 EUV 極端遠(yuǎn)紫外光刻技術(shù)研究也在提速前進(jìn)。

          關(guān)鍵詞:干涉,衍射,光刻。

          光刻工藝的種類很多,我們以時(shí)間為線索,逐個(gè)展開如下:

          1. 以Photons為光源的光刻技術(shù)

          在光刻技術(shù)的研究和開發(fā)中,以光子為基礎(chǔ)的光刻技術(shù)種類很多,但產(chǎn)業(yè)化前景較好的主要是紫外(UV)光刻技術(shù)、深紫外(DUV)光刻技術(shù)、極紫外(EUV)光刻技術(shù)和X射線(X-ray)光刻技術(shù)。不但取得了很大成就,而且是目前產(chǎn)業(yè)中使用最多的技術(shù),特別是前兩種技術(shù),在半導(dǎo)體工業(yè)的進(jìn)步中,起到了重要作用。

          紫外光刻技術(shù)是以高壓和超高壓汞(Hg)或者汞-氙(Hg-Xe)弧燈在近紫(350~450nm)的3條光強(qiáng)很強(qiáng)的光譜(g、h、i線)線,特別是波長為365nm的i線為光源,配合使用像離軸照明技術(shù)(OAI)、移相掩模技術(shù)(PSM)、光學(xué)接近矯正技術(shù)(OPC)等等,可為0.35~0.25μm的大生產(chǎn)提供成熟的技術(shù)支持和設(shè)備保障,在目前任何一家FAB中,此類設(shè)備和技術(shù)會(huì)占整個(gè)光刻技術(shù)至少50%的份額;同時(shí),還覆蓋了低端和特殊領(lǐng)域?qū)饪碳夹g(shù)的要求。

          深紫外技術(shù)是以KrF氣體在高壓受激而產(chǎn)生的等離子體發(fā)出的深紫外波長(248 nm和193 nm)的激光作為光源,配合使用i線系統(tǒng)使用的一些成熟技術(shù)和分辨率增強(qiáng)技術(shù)(RET)、高折射率圖形傳遞介質(zhì)(如浸沒式光刻使用折射率常數(shù)大于1的液體)等,可完全滿足O.25~0.18μm和0.18μm~90 nm的生產(chǎn)線要求;同時(shí),90~65 nm的大生產(chǎn)技術(shù)已經(jīng)在開發(fā)中,如光刻的成品率問題、光刻膠的問題、光刻工藝中缺陷和顆粒的控制等,仍然在突破中;至于深紫外技術(shù)能否滿足65~45 nm的大生產(chǎn)工藝要求,目前尚無明確的技術(shù)支持。相比之下,由于深紫外(248 nm和193 nm)激光的波長更短,對(duì)光學(xué)系統(tǒng)材料的開發(fā)和選擇、激光器功率的提高等要求更高。

          極紫外(EUV)光刻技術(shù)早期有波長10~100 nm和波長1~25 nm的軟X光兩種,兩者的主要區(qū)別是成像方式,而非波長范圍。前者以縮小投影方式為主,后者以接觸/接近式為主,目前的研發(fā)和開發(fā)主要集中在13 nm波長的系統(tǒng)上。極紫外系統(tǒng)的分辨率主要瞄準(zhǔn)在13~16 nm的生產(chǎn)上?紤]到技術(shù)的延續(xù)性和產(chǎn)業(yè)發(fā)展的成本等因素,極紫外(EUV)光刻技術(shù)是眾多專家和公司看好的、能夠滿足未來16 nm生產(chǎn)的主要技術(shù)。但由于極紫外(EUV)光刻掩模版的成本愈來愈高,產(chǎn)業(yè)化生產(chǎn)中由于掩模版的費(fèi)用增加會(huì)導(dǎo)致生產(chǎn)成本的增加,進(jìn)而會(huì)大大降低產(chǎn)品的競爭力,這是極紫外(EUV)光刻技術(shù)快速應(yīng)用的主要障礙。為了降低成本,國外有的研發(fā)機(jī)構(gòu)利用極紫外(EUV)光源,結(jié)合電子束無掩模版的思想,開發(fā)成功了極紫外(EUV)無掩模版光刻系統(tǒng),但還沒有商品化,進(jìn)入生產(chǎn)線。

          X射線光刻技術(shù)也是20世紀(jì)80年代發(fā)展非常迅速的、為滿足分辨率100 nm以下要求生產(chǎn)的技術(shù)之一。主要分支是傳統(tǒng)靶極X光、激光誘發(fā)等離子X光和同步輻射X光光刻技術(shù)。特別是同步輻射X光(主要是O.8 nm)作為光源的X光刻技術(shù),光源具有功率高、亮度高、光斑小、準(zhǔn)直性良好,通過光學(xué)系統(tǒng)的光束偏振性小、聚焦深度大、穿透能力強(qiáng);同時(shí)可有效消除半陰影效應(yīng)(Penumbra Effect)等優(yōu)越性。

          2.以Particles為光源的光刻技術(shù)

          以Particles為光源的光刻技術(shù)主要包括粒子束光刻、電子束光刻,特別是電子束光刻技術(shù),在掩模版制造業(yè)中發(fā)揮了重要作用,目前仍然占有霸主地位,沒有被取代的跡象;但電子束

          光刻由于它的產(chǎn)能問題,一直沒有在半導(dǎo)體生產(chǎn)線上發(fā)揮作用,因此,人們一直想把縮小投影式電子束光刻技術(shù)推進(jìn)半導(dǎo)體生產(chǎn)線。特別是在近幾年,取得了很大成就,產(chǎn)能已經(jīng)提高到20片/h(φ200 mm圓片)。

          電子束光刻進(jìn)展和研發(fā)較快的是傳統(tǒng)電子束光刻、低能電子束光刻、限角度散射投影電子束光刻(SCALPEL)和掃描探針電子束光刻技術(shù)(SPL)。傳統(tǒng)的電子束光刻已經(jīng)為人們?cè)谘谀0嬷圃鞓I(yè)中廣泛接受,由于熱/冷場(chǎng)發(fā)射(FE)比六鵬化鑭(LaB6)熱游離(TE)發(fā)射的亮度能提高100~1000倍之多,因此,熱/冷場(chǎng)發(fā)射是目前的主流,分辨率覆蓋了100~200 nm的范圍。但由于傳統(tǒng)電子束光刻存在前散射效應(yīng)、背散射效應(yīng)和鄰近效應(yīng)等,有時(shí)會(huì)造成光致抗蝕劑圖形失真和電子損傷基底材料等問題,由此產(chǎn)生了低能電子束光刻和掃描探針電子束光刻。低能電子束光刻光源和電子透鏡與掃描電子顯微鏡(SEM)基本一樣,將低能電子打入基底材料或者抗蝕劑,以單層或者多層L-B膜(Langmuir-Blodgett Film)為抗蝕劑,分辨率可達(dá)到10 nm以下。掃描探針電子束光刻技術(shù)(SPL)是利用掃描隧道電子顯微鏡和原子力顯微鏡原理,將探針產(chǎn)生的電子束,在基底或者抗蝕劑材料上直接激發(fā)或者誘發(fā)選擇性化學(xué)作用,如刻蝕或者淀積進(jìn)行微細(xì)圖形加工和制造。另外一種比較有潛力的電子束光刻技術(shù)是SCALPEL,由于SCALPEL的原理非常類似于光學(xué)光刻技術(shù),使用散射式掩模版(又稱鼓膜)和縮小分步掃描投影工作方式,具有分辨率高(納米級(jí))、聚焦深度長、掩模版制作容易和產(chǎn)能高等優(yōu)勢(shì),很多專家認(rèn)為SCALPEL是光學(xué)光刻技術(shù)退出歷史舞臺(tái)后,半導(dǎo)體大生產(chǎn)進(jìn)入納米階段的主流光刻技術(shù),因此,有人稱之為后光學(xué)光刻技術(shù)。

          粒子束光刻發(fā)展較快的有聚焦粒子束光刻(FIB)和投影粒子束光刻,由于光學(xué)光刻的不斷進(jìn)步和不斷滿足工業(yè)生產(chǎn)的需要,使離子束光刻的應(yīng)用已經(jīng)有所擴(kuò)展,如FIB技術(shù)目前主要的應(yīng)用是將FIB與FE-SEM連用,擴(kuò)展SEM的功能和使得SEM觀察方便;另外,通過方便的注射含金屬、介電質(zhì)的氣體進(jìn)入FTB室,聚焦離子分解吸附在晶圓表面的氣體,可完

          成金屬淀積、強(qiáng)化金屬刻蝕、介電質(zhì)淀積和強(qiáng)化介電質(zhì)刻蝕等作用。投影粒子束光刻的優(yōu)點(diǎn)很明顯,但缺點(diǎn)也很明顯,如無背向散射效應(yīng)和鄰近效應(yīng),聚焦深度長,大于l0μm,單次照射面積大,故產(chǎn)能高,目前可達(dá)φ200 mm硅片60片/h,可控制粒子對(duì)抗蝕劑的滲透深度,較容易制造寬高比較大的三維圖形等等;但也有很多缺點(diǎn),如因?yàn)榭臻g電荷效應(yīng),使得分辨率不好,目前只達(dá)到80~65 nm,較厚的掩模版散熱差,易受熱變形,有些時(shí)候還需要添加冷卻裝置等等。

          3.物理接觸式光刻技術(shù)

          通過物理接觸方式進(jìn)行圖像轉(zhuǎn)印和圖形加工的方法有多年的開發(fā),但和光刻技術(shù)相提并論,并納入光刻領(lǐng)域是產(chǎn)業(yè)對(duì)光刻技術(shù)的要求步入納米階段和納米壓印技術(shù)取得了技術(shù)突破以后。物理接觸式光刻主要包括Printing、Molding和Embossing,其核心是納米級(jí)模版的制作,物理接觸式光刻技術(shù)中,以目前納米壓印技術(shù)最為成熟和受人們關(guān)注,它的.分辨率已經(jīng)達(dá)到了10 nm,而且圖形的均一性完全符合大生產(chǎn)的要求,目前的主要應(yīng)用領(lǐng)域是MEMS、MOEMS、微應(yīng)用流體學(xué)器件和生物器件,預(yù)測(cè)也將是未來半導(dǎo)體廠商實(shí)現(xiàn)32 nm技術(shù)節(jié)點(diǎn)生產(chǎn)的主流技術(shù)。由于目前實(shí)際的半導(dǎo)體規(guī)模生產(chǎn)技術(shù)還處在使用光學(xué)光刻技術(shù)苦苦探索和解決65 nm工藝中的一些技術(shù)問題,而納米壓印技術(shù)近期在一些公司的研究中心工藝上取得的突破以及驗(yàn)證的技術(shù)優(yōu)勢(shì),特別是EV Group和MII(Molecular Imprinting Inc)為一些半導(dǎo)體設(shè)計(jì)和工藝研究中心提供的成套光刻系統(tǒng)(包括涂膠機(jī)、納米壓印光刻機(jī)和等離子蝕刻系統(tǒng))取得的滿意數(shù)據(jù),使得人們覺得似乎真正找到了納米制造技術(shù)的突破口。

          4.其它光刻技術(shù)

          光刻技術(shù)常見的技術(shù)方案如上所述的紫外光刻、電子束光刻、納米壓印光刻等,以廣為業(yè)界的人們所熟悉。但近年來,在人們?yōu)榧{米級(jí)光刻技術(shù)探索出路的同時(shí),也出現(xiàn)了許多新的技術(shù)應(yīng)用于光刻工藝中,主要有干涉光刻技術(shù)(CIL)、激光聚焦中性原子束光刻、立體光刻技術(shù)、全息光刻技術(shù)和掃描電化學(xué)光刻技術(shù)等等。其中成像干涉光刻技術(shù)(IIL)發(fā)展最快,主要是利用通過掩模版光束的空間頻率降低,可使透鏡系統(tǒng)收集,然后再還原為原來的空間頻率,照射襯底材料上的抗蝕劑,傳遞掩模版圖形,可以解決傳統(tǒng)光學(xué)光刻受限于投影透鏡的傳遞質(zhì)量和品質(zhì),無法收集光束的較高頻率部分,使圖形失真的問題。其他的光刻技術(shù)因?yàn)樵诩夹g(shù)上取得的突破甚微,距離應(yīng)用相當(dāng)遙遠(yuǎn),此處不再贅述。

          5.未來光刻技術(shù)的發(fā)展

          隨著電子產(chǎn)業(yè)的技術(shù)進(jìn)步和發(fā)展,光刻技術(shù)及其應(yīng)用已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了傳統(tǒng)意義上的范疇,如上所述,它幾乎包括和覆蓋了所有微細(xì)圖形的傳遞、微細(xì)圖形的加工和微細(xì)圖形的形成過程。因此,未來光刻技術(shù)的發(fā)展也是多元化的,應(yīng)用領(lǐng)域的不同會(huì)有所不同,但就占有率最大的半導(dǎo)體和微電子產(chǎn)品領(lǐng)域而言,實(shí)現(xiàn)其納米水平產(chǎn)業(yè)化的光刻技術(shù)將分成兩個(gè)階段,即90~32 nm階段將仍然由深紫外和極紫外光刻結(jié)合一些新的技術(shù)手段去完成,同時(shí)納米壓印和掃描探針光刻技術(shù)在45 nm技術(shù)節(jié)點(diǎn)將會(huì)介入進(jìn)行過渡;32 nm以下的規(guī)模生產(chǎn)光刻技術(shù)將在納米壓印和掃描探針光刻技術(shù)之間選擇。另外,F(xiàn)PD產(chǎn)業(yè)作為光刻技術(shù)應(yīng)用的另外一個(gè)分支,在未來的占有率將會(huì)上升,除了已經(jīng)形成的對(duì)光刻技術(shù)需求的共識(shí)外(大面積、低分辨率和1:1折反射投影式等),一些新的技術(shù)也在開發(fā)中,如電子束光刻技術(shù)和激光直寫光刻技術(shù)等?傊,未來光刻技術(shù)的發(fā)展將會(huì)更快,技術(shù)上將會(huì)更加集中,一些沒有市場(chǎng)前景和應(yīng)用的技術(shù)將會(huì)淘汰。

          參考文獻(xiàn):

          1. MicroLithography Secience and Technology_Second Edition_by Bruce M. Smith (2007)2. Resolution Enhancement Techniques in Optical Lithography_by Alfred Kwok-Kit Wong (2001)

          3. Optical Imaging in Projection Microlithography_by Alfred Kwok-Kit Wong (2005)

          4. Lithography Process Control_by Harry J. Levinson (1999)

          5. Principles of Lithography_Third Edition_by Haryy J. Levinson (2010)

          6. Field Guide to Optical Lithography_by Chris A. Mack (2006)7. Fundamental Principles of Optical Lithography - The Science of Microfabrication_by Chris A. Mack (2008)

          8. Optical Lithography Modelling with MATLAB_by Kevin Berwick (2011)

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