關(guān)于xrd物相分析實(shí)驗(yàn)報(bào)告范文
篇一:XRD物相分析實(shí)驗(yàn)報(bào)告
一、 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?/strong>
1.掌握X 射線衍射儀的使用及進(jìn)行定性相分析的基本原理。
2.學(xué)會(huì)用PDF軟件索引對(duì)多相物質(zhì)進(jìn)行相分析的方法和步驟。
二、實(shí)驗(yàn)原理
布拉格方程:2dsinn
X 射線衍射儀是按著晶體對(duì) X 射線衍射的幾何原理設(shè)計(jì)制造的衍射實(shí)驗(yàn)儀器。在測(cè)試過程,由X 射線管發(fā)射出來的 X 射線照射到試樣上產(chǎn)生衍射效應(yīng),滿足布拉格方程的2dsinn,和不消光條件的衍射光用輻射探測(cè)器,經(jīng)測(cè)量電路放大處理后,在顯示或記錄裝置上給出精確的衍射峰位置、強(qiáng)度和線形等衍射信息,這些衍射信息可作為各種應(yīng)用問題的原始數(shù)據(jù)。X 射線衍射儀的基本組成包括;X 射線發(fā)生器、衍射測(cè)角儀、輻射探測(cè)器、測(cè)量電路和控制操作、運(yùn)行軟件的電子計(jì)算機(jī)系統(tǒng)。在衍射測(cè)量時(shí),試樣繞測(cè)角儀中心軸轉(zhuǎn)動(dòng),不斷地改變?nèi)肷渚與試樣表面的夾角,射測(cè)量時(shí),試樣繞測(cè)角儀中心軸轉(zhuǎn)動(dòng),不斷地改變?nèi)肷渚與試樣表面的夾角,與此同時(shí)計(jì)數(shù)器沿測(cè)角儀圓運(yùn)動(dòng),接收各衍射角所對(duì)應(yīng)的衍射強(qiáng)度。任何一種結(jié)晶物質(zhì)都具有特定的晶體結(jié)構(gòu)。在一定波長(zhǎng)的X 射線照射下,每種晶體物質(zhì)都產(chǎn)生自己特有的衍射花樣。每一種物質(zhì)與它的衍射花樣都是一一對(duì)應(yīng)的,不可能有兩種物質(zhì)給出完全相同的衍射花樣。如果試樣中存在兩種以上不同結(jié)構(gòu)的物質(zhì)時(shí),每種物質(zhì)所特有的衍射花樣不變,多相試樣的
衍射花樣只是由它所含各物質(zhì)的衍射花樣機(jī)械疊加而成。在進(jìn)行相分析時(shí),只要和標(biāo)準(zhǔn)的PDF衍射圖譜比較就可以確定所檢測(cè)試樣里面的所存在的相。
三、實(shí)驗(yàn)儀器,試樣
XRD儀器為: Philip X’Pert diffractometer with Cu-Ka radiation source (=1.54056) at 40Kv。
實(shí)驗(yàn)試樣:Ti98Co2基的合金
四、實(shí)驗(yàn)條件
2=20-80o
step size:0.05o/S
五、實(shí)驗(yàn)步驟
1.開總電源
2.開電腦,開循環(huán)水
3.安裝試樣,設(shè)置參數(shù),并運(yùn)行Xray衍射儀。
4.Xray衍射在電腦上生成數(shù)據(jù),保存數(shù)據(jù)。
5.利用orgin軟件生成Xray衍射圖譜。并依次找出峰值的,并與PDF中的標(biāo)準(zhǔn)圖譜相比較,比對(duì)三強(qiáng)線的,確定試樣中存在的相。
六、實(shí)驗(yàn)結(jié)果及分析
含Ti98Co2基試樣在2=20-80o,step size:0.05o/S實(shí)驗(yàn)條件下的Xray衍射圖的標(biāo)定如下圖:
Ti
TiCo
Intensity(a.u.)
304050607080
deg)
經(jīng)過與PDF標(biāo)準(zhǔn)衍射圖譜比較,可以確定里面含有Ti和CoTi這兩相。但可能含有其他相,只是含量很小,通過Xray衍射實(shí)驗(yàn)不能識(shí)別出。
篇二:XRD物相與結(jié)構(gòu)分析實(shí)驗(yàn)報(bào)告
一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?/strong>
(1) 熟悉Philips射線衍射儀的基本結(jié)構(gòu)和工作原理
。2)基本學(xué)會(huì)樣品測(cè)試過程
(3)掌握利用衍射圖進(jìn)行物相分析的方法
。4)基本掌握利用衍射圖進(jìn)行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的方法
二、實(shí)驗(yàn)原理
晶體的X射線衍射圖譜是對(duì)晶體微觀結(jié)構(gòu)精細(xì)的形象變換,每種晶體結(jié)構(gòu)與其X射線衍射圖之間有著一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系,任何一種晶態(tài)物質(zhì)都有自己獨(dú)特的X射線衍射圖,而且不會(huì)因?yàn)榕c其它物質(zhì)混合在一起而發(fā)生變化,這就是X射線衍射法進(jìn)行物相分析的依據(jù).規(guī)模最龐大的多晶衍射數(shù)據(jù)庫是由JCPDS(Joint Committee on Powder Diffraction Standards)編篡的《粉末衍射卡片集》(PDF)。
三、儀器和試劑
飛利浦Xpert Pro 粉末X射線衍射儀;無機(jī)鹽
四、實(shí)驗(yàn)步驟
1.樣品制備
。1)粉末樣品制備:任何一種粉末衍射技術(shù)都要求樣品是十分細(xì)小的粉末顆粒,使試樣在受光照的體積中有足夠多數(shù)目的晶粒。因?yàn)橹挥羞@樣,才能滿足獲得正確的粉末衍射圖譜數(shù)據(jù)的條件:即試樣受光照體積中晶粒的取向是完全機(jī)遇的。粉末衍射儀要求樣品試片的表面是十分平整的`平面。
。2)將被測(cè)樣品在研缽中研至200-300目。
。3)將中間有淺槽的樣品板擦干凈,粉末樣品放入淺槽中,用另一個(gè)樣品板壓一下, 樣品壓平且和樣品板相平。
2. 塊狀樣品制備
X光線照射面一定要磨平,大小能放入樣品板孔,樣品拋光面朝向毛玻璃面,用橡皮泥從后面把樣品粘牢,注意勿讓橡皮泥暴露在X射線下,以免引起不必要干擾。
3. 樣品掃描
在new program中編好測(cè)試程序open program measureprogram開始采集數(shù)據(jù)在HighScore中處理譜圖。
五、實(shí)驗(yàn)結(jié)果
1.物相分析
實(shí)驗(yàn)得到的衍射圖各衍射峰d值如表1:
2礦和TiO2金紅石。
2.定量分析
利用全譜擬合方法(WPPF)對(duì)譜圖進(jìn)行處理后,得到TiO2銳鈦礦的含量是
50.1%,TiO2金紅石的含量是49.9%。
3.晶體結(jié)構(gòu)分析
利用軟件處理譜圖后得到兩種TiO2晶體的晶體結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù),并根據(jù)晶格常數(shù)
判斷出晶胞的晶系,結(jié)果如表2:
1R: ρ=○
(g/m3)=4.275 (g/cm3) 2A:ρ=○(g/m3)=3.894 (g/cm3)
4.結(jié)果分析
1對(duì)于樣品的物相分析是準(zhǔn)確的,所有的峰都與PDF標(biāo)準(zhǔn)卡片中TiO2銳鈦礦和○TiO2金紅石的峰相重疊,雖然在強(qiáng)度上略微有所不同,但考慮到儀器和操作填料
的差異,這是在誤差允許范圍內(nèi)的。
2對(duì)于樣品的定量分析,○同一天的兩組同學(xué)測(cè)得的結(jié)果如表3所示,從表3中我們可以看出,對(duì)于同一份樣品,兩組同學(xué)的測(cè)量結(jié)果略微有些差異。這些差異主要來自于研磨的程度不同、裝填樣品的凹凸程度和平滑程度不同,但差異是在誤差允許范圍的。
3是在誤差允許范圍的;但兩組同學(xué)的晶體尺寸都較大,超過100nm,從儀器測(cè)量的角度來說以及謝樂公式來說,測(cè)量誤差都是較大的,這表明我們對(duì)樣品的研磨并不充分;利用晶格常數(shù)計(jì)算出的密度與查閱資料得到的密度相符合。(文獻(xiàn)中:
33銳鈦礦:3.82-3.97 g/cm,金紅石:4.2-4.3 g/cm)
六、思考題
。1)X射線在晶體中衍射的二要素是什么?
答:衍射方向和衍射強(qiáng)度是衍射的二要素。通過衍射強(qiáng)度與衍射方向可以確定晶體的物相組成和晶格參數(shù)等信息。
。2)晶面指數(shù)是否等于衍射指數(shù),它們之間的關(guān)系是什么?
, 答:不等于。晶面指數(shù)與衍射指數(shù)有如下關(guān)系:h=nh*,k=nk*,l=nl*,其中n為衍射級(jí)數(shù),
,h,k,l為晶面參數(shù),h*,k*,l*為衍射指數(shù)。
。3)勞埃方程與布拉格方程解決什么問題?它們本質(zhì)是否相同?
答:解決X射線波長(zhǎng)和衍射方向關(guān)系的問題從而得出晶胞信息。相對(duì)來說,布拉格方程比勞埃方程更加簡(jiǎn)單,而二者的物理本質(zhì)是一樣的,從勞埃方程可以推導(dǎo)出布拉格方程。
。4)如何從一種晶體的多晶X射線衍射圖上判別是立方還是四方?
答:晶體尺寸在100nm以下時(shí),可以通過謝樂公式近似計(jì)算晶粒尺寸:
DCk,其中k為儀器參數(shù),λ為X射線的波長(zhǎng),B為衍射峰的半高寬度,θ為衍Bcos
射角。借助謝樂公式可以計(jì)算出晶體的尺寸從而判斷晶胞的結(jié)構(gòu)式立方還是四方。
(5)衍射線寬化是由那些因素引起的?
答:樣品粉末的顆粒細(xì)化;化學(xué)計(jì)量式不唯一;存在晶格畸變;點(diǎn)陣缺陷;晶體結(jié)構(gòu)對(duì)稱性 下降;儀器自身原因?qū)е碌难苌浞鍖捇鹊取?/p>
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